杭州远方光电信息股份有限公司

2024照明展参展商1.2 D36
杭州远方光电信息股份有限公司(股票代码:300306,简称“远方信息” )是智能检测识别信息技术和服务提供商,布局涉及光电检测、核磁共振、红外紫外、生物识别、基因检测诊断等专业,拥有自主核心技术,广泛服务于工业、交通、金融、公共、医疗等领域,到目前为止,远方信息是全球唯一一家以“LED和照明检测设备”为主营业务而实现公司上市的企业。公司坐落于被誉为“天堂硅谷”的杭州滨江国家高新技术开发区,是国家火炬计划重点高新技术企业,国内首家CIE正式官方会员企业,ISO9001国际认证通过企业,国家“双软”认证通过企业,拥有美国NVLAP认可实验室和中国CNAS认可实验室。2013年和2014年连续两年被福布斯评为中国最具潜力上市公司100强。远方公司多次承担国家高技术研究发展计划(863计划)课题和省市级重大科技攻关项目。拥有专利260余项,其中包括中、美、德发明专利60余项。远方公司的多项高科技技术产品获得“中国专利优秀奖”、“首批国家自主创新产品”、“国家重点新产品”等荣誉称号。远方公司还积极参与国际标准化活动,主导或参与了40余项国际、国内标准或技术规范的制修订。远方公司产品大量销往美国、欧洲、日本、韩国、台湾等世界发达地区,被万余家企业和政府质检机构采用,产品出口和国内市场占有率均遥遥领先。客户包括中国计量院(NIM)、联合国开发计划署(UNDP)、美国国家标准技术研究院(NIST)、台湾工业研究院(ITRI)、SGS、ITS、TUV、DEKRA、CTI等国际高水平检测实验室和CREE、PHILIPS、GE、OSRAM、SAMSUNG等国际著名企业。
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远方董事长应邀为ICDT 2021的专题技术讲座做报告

2021/6/2

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2021国际显示技术大会于5月30日至6月2日在北京亦创国际会展中心举行。国际显示技术大会(International Conference on Display Technology, ICDT)是国际信息显示学会(SID)在美国境外举办的唯一独立品牌的国际性显示技术会议,极大地推动了显示产业的发展。ICDT 2021由SID北京分会、香港分会、台北分会、科技部“战略性先进电子材料”总体专家组、福州大学主办,由京东方和SID China共同承办。

其中专题技术讲座于5月30日上午率先开课,内容涵盖了信息显示行业的6个领域,包括:TFT、显示测量、Micro-LED、AR&VR、量子点和应用视觉等。杭州远方光电信息股份有限公司董事长兼首席科学家潘建根教授应邀为大会的专题技术讲座做题为《先进显示测量技术与最新进展》的报告。

报告从显示光度色度学基本理论和测量仪器基本原理出发,梳理显示关键光电参数的测量需求和测量方法,并结合AR/VR、OLED、Mini-LED、Micro-LED等新型光电显示的实测结果分析其基础光度色度参数、时间特性、环境光对比度等性能,介绍国内外最新动态,以及应用实例分析,深入浅出,主要面向从事显示器相关研发和品质管理工程技术人员。


在同期举办的展会上,远方展示了为显示背光源、Mini/Micro-LED、LCD、OLED、激光投影、虚拟现实、车载显示及相关材料和器件,提供的高端光电测量设备和解决方案,可适用于产品研发、质检实验室以及生产线检测。

让小编带大家一睹为快:

NEDS-2000近眼显示机器人测量系统

NEDS-2000近眼显示机器人测量系统可精确测量AR、VR等近眼显示设备的亮度及亮度均匀性、色度及色度均匀性、图像对比度、视场角、眼盒大小、图像畸变、清晰度等关键光学参数,采用专利多项技术大幅提高系统的精确度和操作便利性。


CX-800C成像彩色亮度计

CX-800C成像彩色亮度计精确匹配颜色三刺激值函数,通过一次取样测量可以获得视场内各点的亮度、色度及其均匀性,并可进一步分析显示屏MURA,测量方便快捷且准确度高,可广泛应用于LCD、OLED、Micro-led显示、虚拟显示等测量。


SRC-600光谱彩色亮度计

SRC-600光谱彩色亮度计是集光谱、颜色和亮度测量的分光辐射亮度计,可作为标准机测量光谱、亮度、色域、Gamma曲线等参数。


DCA-527色彩分析仪

DCA-527显示色彩分析仪用于测量显示屏的亮度、色度、对比度、gamma曲线以及频闪参数的测量,具有测量速度快、线性动态范围宽、重复性高、测量精度高等优点,不仅适用于研发快速测量,也满足产线测量要求。


TLS可调光谱亮度源

TLS系列可调光谱亮度源采用独特的光谱匹配算法,可提供任意CIE标准光谱以及自定义光谱的光源,系统自带实时监控反馈探测器,实现光谱的实时调控。仪器可以广泛应用于亮度计、图像传感器、相机等设备的色度标定与校准。


HAM-300高精度光谱雾度计

HAM-300高精度光谱雾度计主要用于玻璃盖板、光学薄膜等材料不同波长下的光谱透光率、雾度以及材料在特定光源下光色性能测试,解决AG,AR玻璃以及光学薄膜等样品的性能评价。




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