对于图像传感器行业而言,精确地了解光电量子效率的转换是极其重要的,一个良好特性的传感器可以指定和调整输入滤波后的光谱,增强修正终端产品的使用性能。 Spectra-QT成像传感器量子效率测试光源提供可调的、已知均匀度的、覆盖光谱灵敏度范围的硅光学传感器单色光源,用于测试图像传感器的光谱响应率和量子效率,线性度,像素和模块。 测量参数: 特点: - 超高的光照强度和超大的动态范围,能够满足各种传感器的量子效率测试需求
- 输出稳定、光谱辐射度均匀的面光源,确保传感器测试结果的一致性。
- 光谱辐照度和辐亮度能够实时溯源至美国国家标准与技术研究院(NIST)
- 提供软件开发包,能够满足客户各种自定义测试流程开发需要
主要规格参数 | 光谱辐照度 | 光谱辐亮度 | 波长范围: | 375 - 1100 nm | 375 - 1100 nm | 光谱带宽: | 5 nm to10 nm | 5 nm to10 nm | 波长准确度: | 0.6 nm | 0.6 nm | 开口孔径尺寸: | 29 mm, 23.9 mm, 26.2 m, 22 mm | N/A | 400 nm最大光谱辐照度: | 12 mW/cm2 | 32 mW/cm2-sr | 600 nm最大光谱辐照度: | 21 mW/cm2 | 54 mW/cm2-sr | 800 nm最大光谱辐照度: | 5 mW/cm2 | 11 mW/cm2-sr | 550 nm稳定性: (UV-VIS 光源) | < 1.5% over 5 sec period | < 1.5% over 5 sec period | 750 nm稳定性: (VIS-NIR 光源) | < 0.05% over 5 sec period | < 0.05% over 5 sec period |
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